Fischer菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀篤摯 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測(cè)量超薄鍍層和微含量而設(shè)計(jì)，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測(cè)量?jī)x器

X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝 方法的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單，速度快，可以進(jìn)行原位測(cè)量，在現(xiàn)場(chǎng)獲得目標(biāo)元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測(cè)井和海底X射線熒光測(cè)量，也得到了很大的發(fā)展