泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO（現(xiàn)多為 DUO II 版本）是英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 推出的分體式無線便攜式表面粗糙度測量儀，主打一鍵測量、雙單元分離、高精度便攜三大核心優(yōu)勢，專為現(xiàn)場快速檢測與多場景應用設計，無需復雜培訓即可上手。

核心設計亮點：

創(chuàng)新分體式結構：顯示控制單元與驅(qū)動測量單元通過藍牙無線連接，可組合手持或分離遠程操作，適配狹小空間與復雜工件

極簡操作邏輯：單鍵觸發(fā)完整測量流程，約 5 秒完成循環(huán)，開機即用

一體化解決方案：集粗糙度測量、數(shù)據(jù)存儲與分析于一體，支持多參數(shù)同步顯示